Науково-методологічні засади оцінювання якості й властивостей наноструктур на поверхні напівпровідників : автореферат дис. ... д-ра техн. наук : 05.01.02 / Яна Олександрівна Сичікова ; Український національний науковий центр "Інститут метрології" (Харків).

By: Сичікова Я. ОContributor(s): Український національний науковий центр "Інститут метрології" ХарківMaterial type: TextTextLanguage: українська Publication details: Харків : Український національний науковий центр "Інститут метрології" (Харків). 2019. Description: 40Content type: текст Media type: прямий доступ Carrier type: книгаSubject(s): Техніка. Машинобудування. Метрологічне забезпечення | 621.382-022.513:006(043.3) | С95Dissertation note: д-ра техн. наук 05.01.02 Український національний науковий центр "Інститут метрології" Summary: СУПЕРКОНДЕНСАТОРИ, ФОТОЕЛЕКТРИЧНІ ПЕРЕТВОРЮВАЧІ
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Holdings
Item type Current library Call number Status Date due Barcode
Автореферати дисертацій Автореферати дисертацій Книгосховище

Книгосховище на І поверсі головного навчального корпусу

 621.382-022.513:006(043.3) (Browse shelf(Opens below)) Available 4794-A

д-ра техн. наук 05.01.02 Український національний науковий центр "Інститут метрології"

Бібліогр.: с. 35-39

СУПЕРКОНДЕНСАТОРИ, ФОТОЕЛЕКТРИЧНІ ПЕРЕТВОРЮВАЧІ

There are no comments on this title.

to post a comment.

Powered by Koha